1. 高计数率。由于收集阳的电容低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升时间，因而特别适合在高计数率的情况下工作。

 

2. 高能量分辨率。SDD的阳面积小于通常硅PIN器件，由于电容的减小，在收集等量电荷的情况下具有更高的电压，提高了其能量分辨率。

 

3. 可在常温下工作。SDD的电容和漏电流要比一般探测器小两个数量级以上，通常把场效应管（FET）和Peltier效应器件都整合到一起，这样仪器在常温下就能满足SDD的制冷需求，特别适用于便携式设备的现场使用。

 

根据国家地质实验测试中心的报告，SDD探测器从1962年以Si探测器问世以来，Si-PIN、高纯及四叶花瓣型Ge探测器、Si漂移、SDD等不同性能的探测器， SDD探测器在计算数与制造工艺的稳定性方面取得突破，从而替代复杂的波长色散X射线光谱仪的Si-pIN探测器。

 

光谱测量用探测器应用范围（可分析周期表中所有金属元素和部分非金属元素）

1．钢铁及其合金的分析：包括碳素钢、铸铁、合金钢、高纯铁、铁合金等。

2．有色金属及其合金的分析：包括有色金属及其合金、稀有金属及其合金、贵金属、稀土元素及其化合物。

3．水质样品的分析：包括饮用水、地表水、矿泉水、高纯水及废水等。

4．环境样品的分析：包括固体废物、土壤、粉煤灰、大气飘尘等。

5．地矿样品的分析：包括地质样品、矿石及矿物等。

6．动植物及生化样品的分析：包括植物、中药及动物组织、生物化学样品等。

7．核工业产品的分析：包括核燃料、核材料等。

8．食品及饮料的分析：包括食品、饮料等。

9．化学化工产品的分析：包括化学试剂化工产品无机材料化妆品油类等。